Einlernen an einem Muster
Eine kameragestützte Prüfung kann beispielsweise die Kontur eines Aufdrucks mit einer eingelernten Vorlage vergleichen. Dazu wird auf einer geeigneten Musteraufnahme der relevante Bildbereich ausgewählt. Aus dessen Konturen oder Bildmerkmalen entsteht ein Suchmodell, das in späteren Aufnahmen wiedergefunden werden soll. Das Modell ist ein Ergebnis der Vorbereitung; es wird nicht bei jeder Prüfung von Grund auf neu aufgebaut.
Zum Einlernen gehören deshalb mehr Angaben als die gespeicherte Bilddatei. Der Ausschnitt, verwendete Merkmale und Einstellungen der Vorbereitung bestimmen, was das Modell repräsentiert. Diese Abhängigkeiten werden als Einlernbasis festgehalten.
Änderungen nach ihrer Wirkung unterscheiden
Wird der Arbeitsbereich verschoben, kann das Suchmodell auf einem anderen Ausschnitt beruhen als die laufende Auswertung. Wird dagegen nur die Bezeichnung des Rezepts geändert, entsteht daraus noch kein neues Bildmerkmal. Beide Änderungen pauschal gleich zu behandeln wäre unzweckmäßig: Entweder würden unpassende Einlerndaten weiterverwendet oder funktionierende Modelle unnötig neu erzeugt.
In BSFT Vision legt die jeweilige Prüfkomponente fest, von welchen Rezeptfeldern ihre Einlerndaten abhängen. Bei einer solchen deklarierten Einlernbasis wird auch der Arbeitsbereich der Station einbezogen. Für die fachliche Umsetzung muss daher geklärt werden, welche Einstellungen das vorbereitete Modell verändern und welche erst später bei der Bewertung wirken.
Auch eine Toleranz ist nicht grundsätzlich unabhängig vom Einlernen. Wird sie erst beim Vergleich eines erkannten Merkmals angewendet, kann das Modell unverändert bleiben. Beeinflusst sie dagegen die Auswahl oder Aufbereitung der Lernmerkmale, gehört sie zur Einlernbasis. Die Zuordnung folgt dem Prüfverfahren.
Inhalte statt Dateiformate vergleichen
Für den Vergleich kann aus den relevanten Werten ein Fingerabdruck berechnet werden. Beim Einlernen wird dieser Wert zusammen mit den Einlerndaten gespeichert. Vor der Verwendung wird er aus den aktuellen Einstellungen erneut berechnet. Stimmen beide Werte nicht überein, wurde die Grundlage verändert.
Ein solcher Vergleich muss den Inhalt erfassen. Zusätzliche Leerzeichen in einer Konfigurationsdatei oder eine andere Reihenfolge ihrer benannten Felder dürfen keinen fachlichen Unterschied vortäuschen. Dafür werden die Werte vor der Berechnung in eine einheitliche Darstellung gebracht. Die Reihenfolge in einer Liste bleibt dagegen erhalten, wenn sie zum Inhalt gehört.
Ungültige Grundlage und fehlende Daten
Eine veränderte Einlernbasis und ein fehlendes Modell sind unterschiedliche Zustände. Im ersten Fall liegen Daten vor, deren Bezug zu den aktuellen Einstellungen nicht mehr stimmt. Im zweiten Fall kann eine benötigte Datei oder ein anderes Einlernartefakt nicht bereitgestellt werden.
Bei abweichender Einlernbasis wird die betroffene Komponente in der beschriebenen Umsetzung als nicht eingelernt behandelt. Die Station kann dadurch in einem wartenden Zustand bleiben, statt mit dem alten Modell weiterzuprüfen. Fehlt ein ausdrücklich referenziertes Artefakt, kann bereits die Vorbereitung der neuen Gesamtkonfiguration scheitern. In der Bedienoberfläche sollten diese Ursachen unterscheidbar sein: Erneut einlernen und fehlende Daten wiederherstellen sind verschiedene Arbeitsschritte.
Änderungen an der realen Anlage
Die gespeicherten Einstellungen erfassen nicht jede Veränderung der Aufnahmebedingungen. Eine verdrehte Kamera, eine verschmutzte Leuchte oder ein anders reflektierender Werkstoff kann die Bilder verändern, obwohl die Einlernbasis rechnerisch gleich geblieben ist. Nach solchen Eingriffen wird die Prüfung deshalb mit geeigneten Mustern erneut beurteilt.
Für den Betrieb ergibt sich eine klare Aufteilung: Die Software erkennt Änderungen an den deklarierten Abhängigkeiten. Die fachliche Prüfung bestätigt, ob das Verfahren unter den tatsächlichen Aufnahmebedingungen weiterhin geeignete Ergebnisse liefert. Ein erneutes Einlernen und die anschließende Freigabe lassen sich so gezielt auf den betroffenen Prüfbereich beziehen.